기초회로실험 - 브리지에 의한 LC 측정
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작성일 23-02-07 23:31
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브리지의 감지장치에 흐르는 전류가 0인 상태를 브리지의 평형상태라 한다. 이 때 브리지의 평형상태를 감지하는 검류계 등의 감지장치는 임피던스 측정(measurement)기에 influence을 주지 않는다. 이상적인 커패시터가 되려면 가 되어야 하며, 이 때 D-지수는 0이 되는 것을 알 수 있따
기초회로실험,브리지에 의한 LC 측정
이론(理論) : 앞서 실험4 에서는 Wheastone 브리지를 사용하여 미지의 저항값을 측정(measurement)하는 방법을 실험했었다.
목적 : 임피던스 브리지를 이용하여 인덕턴스, 커패시턴스를 측정하여 원리를 이해하고,
로 定義(정의) 된다. 실제로 브리지는 저항뿐만 아니라 인덕턴스, 커패시턴스, 인덕턴스 Q-지수, 커패시터의 D-지수 등을 측정(measurement)하는 데에도 이용할 수 있따 이 때 사용되는 브리지는 Wheastone 브리지의 구성저항들을 임피던스들로 확장시키는 것으로서, 임피던스 브리지라 부른다. 이 때 커패시터의 소모성을 표시하는 척도가 D-지수이며, 직렬저항 , 병렬저항 에 대하여 각각
(2)커패시턴스의 측정(measurement)
그 방법을 익힌다.
다.
2.실험理論(이론)
이상적인 커패시터는 커패시턴스 C만 가지지만, 실제의 커패시터는 불완전하여 그림 2와 같이 에너지 소모성 저항 R이 C와 결합된 형태로 나타난다.설명
1.실험제목 기초회로실험 - 브리지에 의한 LC 측정 2.실험이론 목적 : 임피던스 브리지를 이용하여 인덕턴스, 커패시턴스를 측정하여 원리를 이해하고, 그 방법을 익힌다. 일반적으로, 브리지에 의한 측정(measurement)은, 이미 알고 있는 정확한 임피던스 값들만을 토대로 하여 비지의 임피던스 값을 구하는 것이기 때문에, 그 측定義(정의) 정확도가 높다.
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1.실험제목
기초회로실험 - 브리지에 의한 LC 측정
(1)임피던스 브리지의 평형조건
순서
그림 1은 일반적인 임피던스 브리지 회로를 보인 것이다. <실험4>의 그림 4와 비교할 때 저항들이 임피던스로 대체되고, 직류전원이 주파수 ω인 교류전원으로 대체된 것을 볼 수 있따
기초회로실험 - 브리지에 의한 LC 측정
임을 도출해 낼 수 있따 이 페이서 관계식이 성립한다는 것은 양변의 크기와 위상이 각각 서로 같고, 실수부와 허수부가 각각 서로 같음을 의미하는 것에 유의해야 한다. 본 실험에서는 임피던스 브리지를 이용하여 인덕턴스, Q-지수, 커패시턴스, D-지수 등을 측정(measurement)하는 방법을 살펴보도록 하겠다. 그림에서 DET는 감지장치를 나타낸다.
